你是否遇到過這樣的情況:觸摸電子設(shè)備時突然“觸電",或是設(shè)備莫名出現(xiàn)故障?其實,這很可能是靜電放電在“搞鬼"。作為電子設(shè)備的主要干擾源,靜電放電的影響遠(yuǎn)比我們想象中更嚴(yán)重。今天,我們就從原理、危害、測試到防護(hù),拆解靜電放電那些事。
靜電放電是常見的自然現(xiàn)象:兩種不同材料摩擦?xí)r,因介電強(qiáng)度差異產(chǎn)生靜電電荷;當(dāng)電荷積累到一定程度,接觸其他物體時會擊穿介質(zhì)、形成通路,最終完成放電。
看似普通的放電過程,對電子設(shè)備卻是“隱形殺手"—— 人體攜帶的靜電,可能成為電子設(shè)備或爆炸性材料的威脅:輕則引發(fā)電磁變化導(dǎo)致設(shè)備誤動作,重則損壞半導(dǎo)體器件,造成設(shè)備失效。
因靜電現(xiàn)象在自然界無處不在,所以靜電放電測試在電子產(chǎn)品的電磁兼容性能評估中占據(jù)舉足輕重的地位。故而為行業(yè)內(nèi)所廣泛重視。
為評估設(shè)備抗靜電干擾的能力,需通過靜電放電發(fā)生器模擬放電現(xiàn)象,并依據(jù)標(biāo)準(zhǔn)開展測試。核心測試細(xì)節(jié)如下:
•直接放電:模擬人直接觸摸設(shè)備放電,分接觸放電(優(yōu)先用于金屬裸露表面)和空氣放電(用于塑料機(jī)箱等非導(dǎo)電表面)。
•間接放電:模擬人觸摸鄰近設(shè)備時的間接干擾,通過對水平/ 垂直耦合板放電,形成靜電場測試設(shè)備抗擾能力(耦合板通過 470KΩ 電阻接地,電荷不會立即泄放)。
•測試等級需結(jié)合設(shè)備使用場景確定(具體等級可參考設(shè)備測試規(guī)范)。
•核心執(zhí)行標(biāo)準(zhǔn):GB/T17626.2-2018、IEC61000-4-2:2008(《電磁兼容試驗和測量技術(shù)靜電放電抗擾度試驗》)。
表1給出了靜電放電試驗時,試驗等級的優(yōu)先選擇范圍。
試驗還應(yīng)滿足表1中所列的較低等級。
有關(guān)可能影響對人體帶電電壓電平的各種參數(shù)的詳細(xì)情況見《GB/T17626.2-201》附錄A中的A2。另外,附錄A中A4還包括一些與環(huán)境安裝等級有關(guān)的試驗等級的實例。
接觸放電是優(yōu)先選擇的試驗方法,空氣放電則用在不能使用接觸放電的場合中。每種試驗方法的電壓列于表1中,由于試驗方法的差別,每種方法所示的電壓是不同的。兩種試驗方法的嚴(yán)酷程度并不表示相等的。
•直接放電:先以20 次 / 秒速率掃視設(shè)備,尋找敏感部位;正式測試以 1 次 / 秒速率,每個點放電 20 次(正負(fù)各 10 次)??諝夥烹娦栌冒雸A頭電極,放電前移開電極再緩慢靠近,且電極需垂直設(shè)備表面。
•間接放電:打水平耦合板時,放電槍垂直離設(shè)備0.1m 處接觸放電;打垂直耦合板時,耦合板離設(shè)備 0.1m,放電槍垂直于耦合板垂直邊中心,設(shè)備 4 個垂直面均需測試。
小貼士:接觸放電因不確定因素少、上升時間陡,即使電壓低,測試嚴(yán)格度也高于同等級空氣放電,因此成為
方式。
試驗結(jié)果根據(jù)設(shè)備功能/ 性能受影響程度分類,具體由制造商與購買方協(xié)商確定,或參考相關(guān)標(biāo)準(zhǔn):
•a 類:性能在規(guī)定限值內(nèi),正常運行;
•b 類:功能暫時喪失,騷擾停止后自行恢復(fù),無需干預(yù);
•c 類:功能暫時喪失,需人工干預(yù)才能恢復(fù);
•d 類:硬件/ 軟件損壞或數(shù)據(jù)丟失,功能無法恢復(fù)。
從源頭控制、路徑優(yōu)化到器件防護(hù),7 個關(guān)鍵措施幫你降低風(fēng)險:
1.源頭控電荷:阻止電荷聚集,過量電荷及時泄放;無法泄放的靜電需隔離,避免干擾關(guān)鍵電路;
2.外殼防護(hù):非金屬外殼加強(qiáng)絕緣或加金屬屏蔽層;金屬外殼保持導(dǎo)電連續(xù),降低搭接阻抗;
3.屏幕與面板:用透明屏蔽材料保護(hù),確保屏蔽層與外殼接地點良好接觸;
4.線路處理:電源線、信號線采用屏蔽、濾波或套鐵氧體磁環(huán),屏蔽層需接地;
5.內(nèi)部電路優(yōu)化:明確電流泄放路徑并確保通暢,敏感信號線、模塊遠(yuǎn)離放電路徑,必要時加屏蔽罩;
6.器件防護(hù):在保護(hù)器件前并聯(lián)放電器件(如TVS、ESD、壓敏電阻);
7.串聯(lián)阻抗:串聯(lián)電阻或磁珠,限制ESD 放電電流。